表面/截面形貌三维重构,揭示材料真实结构

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  • 表面形貌与缺陷检测

  • 内部结构与纳米级分析

  • 三维表面形貌与力学特性

  • 宏观形貌快速筛查

扫描电子显微镜(SEM-EDS)

通过高能电子束扫描样品表面,获取二次电子和背散射电子信号,生成高分辨率三维形貌图像,用于观察塑料表面的裂纹、孔洞及分层等微观缺陷‌。

结合能谱仪(EDS)对微区(如污染颗粒、添加剂)进行元素半定量分析,检测范围覆盖硼(B)至铀(U),支持异物溯源与成分验证‌。

透射电子显微镜(TEM-EDS)

利用高能电子束穿透超薄样品,解析塑料内部纳米填料(如碳纳米管、二氧化硅)的分散状态及晶体结构‌。

结合EDS分析微区元素组成,评估共混材料界面相容性或老化过程中分子链断裂行为‌。

原子力显微镜(AFM)

通过探针与样品表面原子间作用力变化,非破坏性测量塑料表面粗糙度、薄膜厚度及纳米压痕硬度,适用于涂层均匀性或降解形貌研究‌。

支持轻敲模式检测软质塑料(如PE薄膜)的黏弹性,避免探针划伤样品表面‌。‌

体视显微镜(光学显微镜)

基于光学放大原理,初步观察塑料制品表面光泽度、颜色均匀性及大尺寸缺陷,支持产线快速抽检与工艺调整‌

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