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微观形貌测试的解决方案

  • 高分辨结构解析与元素定位

  • 微观力学性能与表面精细化

  • 缺陷筛查与定位支持

扫描电子显微镜(SEM-EDS)

三维表面形貌观测、元素成分分析、断口形貌与界面结合状态评估。

透射电子显微镜(TEM-EDS)

亚纳米级晶体结构解析、原子排列观察、缺陷(位错/层错)表征。

原子力显微镜(AFM)

纳米级表面粗糙度量化、树脂基体相分布统计、界面粘附力与弹性模量测试。

纳米增强相与纤维处理效果评估

纤维表面改性分析、纳米粒子分布及元素偏聚检测。

体视显微镜

试样预处理质量筛查、裂纹扩展路径追踪。

多尺度观测衔接

SEM/TEM关键观测区域预选、跨尺度检测流程优化。

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